光谱辐射仪 BTS2048-VL-TEC-X

多功能温控高-端光谱辐照度传递标准分光辐射计

冷却温度可控的BiTec传感器*，测量更精确

光谱辐照度传递标准

极短的测量时间（电子快门）、高动态范围（滤光轮

触发输入和输出、以太网和USB，用于快速数据传输

带漫射器的直接输入光学器件，用于照度和光谱辐照度

光谱辐射仪 BTS2048-VL-TEC-X

BTS2048-VL-TEC-X 光谱辐照度传递标准质量

BTS2048-VL 的 BTS2048-VL-TEC-X 变体采用热电冷却 CCD 探测器。该设备满足高-端二极管阵列光谱仪的所有要求，且价-格-优惠，尽管其质-量-最-高，但仍非常适合作为光谱辐照度传递标准。

CCD探测器的热电冷却技术可最大限度地降低暗噪声信号，并实现2微秒至60秒的积分时间。因此，BTS2048-VL-TEC-X因其高稳定性而成为极低光强度或极低暗信号测量应用的理想之选。

其独-特功能之一是由 Gigahertz-Optik 开发的创新 BiTec 传感器，该传感器由 V(λ) 滤波硅光电二极管和光谱辐射计单元组成。这使得它非常线性、稳定和快速，因此是更高测量精度的保证，不会伴随任何缺点。两个传感器可以独立使用，传感器的相互校正有利于准确性、速度和多功能性（见关于 bts 技术的文章见文章 技术的文章见文章).

用户软件和开发者软件

标准 S-BTS2048 用户软件具有可定制的用户界面和大量显示和功能模块，可在使用 Gigahertz Optik GmbH 的相应附件组件配置 BTS2048-VL-TEC-X 时激活这些模块。 S-SDK-BTS2048 开发人员软件用于将 BTS2048-VL-TEC-X 集成到客户自己的软件中。

校准

光度测量设备的一项基本质量特征是其精确且可追溯的校准。 BTS2048-VL-TEC-X 由 Gigahertz-Optik 的 ISO/IEC 17025 校准实验室校准，该实验室已获得 DAkkS (D-K-15047-01-00) 的光谱响应度和光谱辐照度认证，符合 ISO/IEC 17025。校准还包括 相应的附件组件。 每台设备都附有相应的校准证书。

一般

简要描述

高速TE冷却CCD光谱仪，具有宽动态范围、低光学带通和BiTec传感器技术，非常适合作为光谱辐照度传递标准。

主要特点

紧凑坚固的设备，不带光纤和直接输入光学器件。BiTec探测器，带背薄TE冷却CCD（2048像素，1纳米光学分辨率，电子快门）和带V（λ）滤光片的温度稳定硅光电二极管。带快门和衰减滤光片的滤光片轮。可提供光学带宽校正（CIE214），但由于1 nm光学带宽的MU贡献率较低，因此实际上并不需要。输入镜头带有散射窗，具有余弦视场。自动PWM同步等。

测量范围

光谱：0.2 lx 至 3E8 lx 280 nm 至 1050 nm（低饱和度的白色 LED 的最-低水平）。 积分：光度 360 nm 至 830 nm，0.1 lx 噪声信号高达 3E8 lx

典型应用

光谱辐照度传递标准，适用于需要最-低测量不确定度和最高质量的应用。

校准

工厂校准。 可溯源至国际校准标准

产品

测量的数量

光谱辐照度 (W/(m² nm)), 辐照度 (W/m²), 照度 (lx), 光谱辐射强度 (W/(sr nm)), 辐射强度 (W/sr), 发光强度 (cd), 主要 波长, 峰值波长, 中心波长, 质心波长, x, y, u´, v´, X,Y,Z, delta uv, 色温, 显色指数 (CRI) Ra, R1-R15, TM-30-15 , CQS, CIE-170等。 可选积分球：另外光谱通量（W/nm）和光通量（lm） 可选测角仪：另外辐射强度（W/sr）分布和发光强度（cd）分布

传感器

符合 DIN 5032 和 CIE No. 69 的 B 级精度

根据 DIN 5032 和 CIE No. 69 的 f1`、u、f3 和 f4 精度等级 A

输入光学元件

漫射器，余弦校正视野 (f2 ≤ 3 %)

滤波器轮

4 个位置（打开、关闭、OD1、OD2）。 用于远程暗电流测量和动态范围扩展。

生物技术

可以使用二极管和阵列进行并行测量，从而通过二极管对阵列进行线性校正，并通过 a*(sz(λ)) 和 F*(sz(λ)) 在线校正二极管的光谱失配。

光谱检测器

校准不确定性

光谱辐照度响应度 (280 - 1050) nm。 标准校准 (350 - 1050) nm。 可选校准 (280 - 1050) nm。

集成时间

2 μs - 60 s        *1

光谱范围

(280 -1050) nm

光带宽度

1 nm

像素分辨率

~0.4 nm/Pixel

像素的数量

2048

芯片

一级冷却高灵敏度背薄CCD芯片

ADC

16bit

峰值波长

± 0.2 nm

主导波长

± 0.5 nm           *2

Δy Δx 不确定度

± 0.0015（标准光源 A）

± 0.0020（普通 LED）

重复性 Δx 和 Δy

± 0.0001

ΔCCT

标准光源 A 30K； LED 高达 +/- 1.5 %，具体取决于 LED 光谱

带通校正

对于1 nm的光学带通，其实没有必要，因为它对测量不确定性的影响不大。但是，支持数学在线带通校正。

线性度

完-全线性化芯片 >99.6%

杂散光

2E-4           *3

基准线噪声

5 cts     *4

信噪比

5000        *5

动态范围

>10 级

光谱辐照度响应范围

(1E-5 - 1E6) W/(m²nm)           *6*7

CRI（显色指数）

Ra 和 R1 至 R15

典型测量时间

10 lx        2.0 s           *10

100 lx      200 ms      *10

1000 lx    20 ms        *10

整体检测器

滤波器

具有精细 CIE 光度匹配的光谱响应度。 通过光谱测量数据在线校正光度匹配（光谱失配因子校正）。

测量范围

九 (9) 个测量范围，具有卓-越的偏移校正

测量范围

最大可测照度值 3E8lx *7

噪声等效照度值1E-1lx

校准

照度 ± 2,2 %

f1'(光谱不匹配)

≤ 6 %（未校正）

≤ 1.5 % (f1' a*(sz(λ)) 分别为 F*(sz(λ)) 由光谱数据校正，由 BTS 技术自动完成）

ADC

16bit

温度范围

无温度补偿：<0.1 %/°C<

有温度补偿：<0.03 %/°C

图表

杂项

微处理器

32位设备控制，16位CCD阵列控制，8位光电二极管控制

接口

USB V2.0、以太网（LAN UDP协议）、RS232、RS485

数据传输

标准的 2048 浮点数组值，通过以太网 7 毫秒，通过 USB 2.0 140 毫秒

输入接口

2x (0 - 25) VDC，1x 光耦合器隔离 5 V / 5 mA

输出接口

2x 集电极开路，最大值 25 伏，最大值 500毫安

触发器

包含触发输入（不同的选项、上升/下降沿、延迟等）

软件

用户软件 S-BTS2048

可选软件开发套件 S-SDK-BTS2048，用于基于 C、C++、C# 或 LabView 中的 .dll 的用户软件设置。

电源

带电源：700 mA 时 DC 输入 5V (±10 %)

带 USB 总线 (500mA) *8

尺寸规格

103 毫米 x 107 毫米 x 52 毫米（长 x 宽 x 高）

重量

500g

安装

三脚架和 M6 螺纹

標準：前适配器 UMPA-1.0-HL 与积分球端口框架 UMPF-1.0-HL 一起使用

SM1 變種： 配備 SM1 轉接器，可與標準 SM1 元件搭配使用。

温度范围

储存：（-10 至 50）°C

操作：（10 至 30）°C *9

信息

*1 建议每次积分时间变化时执行新的暗信号测量

*2 典型值，主波长的不确定性取决于 LED 的光谱分布

*3 典型值，在冷白宽带 LED 峰值左侧 100nm 处测量

*4 *5 典型值在 4ms 测量时间和阵列的满量程控制下测得的平均值。平均导致 S/N 二次上升

即基础噪声的二次下降，例如平均到 100 倍将 S/N 提高 10 倍

*6 最-低 500/1 S/N。满量程控制时的最大值。

*7 只允许短时间照射以避免热损伤

*8 在 USB 连接期间，由于电流供应有限，并非所有功能都可用。没有以太网和 TEC 冷却

*9 大约需要温度稳定的设备。 25分钟。在预热阶段执行测量，或者如果执行测量

在不同的温度下，每次测量都需要暗信号测量

* 10 次测量白色 LED 和 20000 计数（信号暗）饱和度

温度范围

CCD芯片：≤±0.25℃