Gigahertz Optik 紫外光谱仪 BTS256-UV
手持便携式紫外光谱仪,具有创新的杂散光校正功能,可在紫外光固化应用中实现精确的辐照度和剂量测量
宽波长范围 200 nm 至 525 nm
12 mm 的低高度非常适合传送带
针对高紫外线辐射和温度设计,采用不锈钢外壳
用于自动偏移补偿和创新杂散光校正的机电光圈
使用 ISO 17025 选项进行可追溯校准
Gigahertz Optik 紫外光谱仪 BTS256-UV
高强度紫外测量应用
紫外线和蓝色光谱范围内的高强度辐射源的典型应用是紫外线辐射固化、太阳模拟、紫外线消毒、紫外线测试系统和紫外线下水道修复。 对于具有重复测量任务的基于过程的应用,X1-RCH-116 LED UV胶固化仪 等宽带辐射计通常是最-有-效的解决方案,因为它们易于使用、物有所值且重新校准成本低。
紫外光谱仪与紫外宽带辐射计
BTS256-UV 等光谱仪是宽带辐射计的替代品,可提供有关辐射源光谱分布的额外信息. 如果必须研究宽带紫外灯的波长相关老化过程或必须在不同波长范围内测量辐照度,则光谱信息尤为重要。如果必须测量不同光谱分布的光源,这一点也很重要。为此,理想情况下,宽带辐射计需要考虑这些光谱差异的单独校准因子。对于光谱仪,这不是必需的。此外,光谱仪提供比宽带辐射计更精确的测量值。这是由于它们的光谱灵敏度函数对应于所选光谱测量范围内的矩形函数。为了在紫外光谱范围内进行精确测量,需要非常好的杂散光抑制,这是市场上典型的阵列光谱仪所不能提供的。
BTS256-UV 光谱仪符合光谱辐射测量仪器的最新设计标准,具有出色的杂散光校正功能,适用于便携式仪表。
光谱灵敏度范围宽,非常适合所有类型的紫外线源(LED、HMI 等)
光谱灵敏度范围从200 nm到525 nm,可以在紫外到蓝色波长范围内进行精确的辐照度测量。甚至 UVA LED 的长波光谱成分(通常范围高达约 490 nm)也被完-全捕获。特别是,这种宽光谱范围支持 UV 或蓝光固化中的应用以及短波led在UVC范围内的使用趋势。
余弦视野 (f2 ) 和扁平化设计
在测量扩展光源时,正确测量与角度相关的辐照度需要仪器的余弦校正视野功能。此外,传感器到辐照度参考平面的距离必须尽可能小。BTS256-UV 测量仪器高度仅为 12 毫米,具有精确的余弦视场(低 f 2),是市场上最薄的光谱辐射计之一,适用于绝对辐照度的精确测量。
杂散光校正和自动暗信号消除
杂散光和暗信号都对带有 CCD 或 CMOS 阵列传感器的紫外光谱仪的测量结果产生重大影响。如果紫外灯的发射光谱具有长波成分(VIS 到 IR),杂散光的影响总是至关重要的,这会导致设备实际测量范围内的杂散光影响测量结果。紫外范围内的杂散光强度很容易超过实际测量信号的强度,从而导致相当大的测量误差。相比之下,暗信号是由手持使用期间的工作温度波动和测量不同辐照度水平所需的积分时间变化引起的。
尽管采用了扁平化设计,BTS256-UV 光谱仪还是将创新的杂散光校正与集成光学滤光片以及暗电平快门作为标准配置结合在一起。这两个功能都是自动化的。这保证了不同发射体类型和不同工作温度下的精确辐照度测量。
抗强紫外线辐射和高温
在实际应用中,光谱仪经常暴露在高强度的紫外线辐射和温度效应下,这应该会触发应用中的老化效应或交联过程。BTS256-UV 光谱仪内置于不锈钢外壳中,具有出色的紫外线稳定性和低导热性,可保护电子设备。同时保证了仪表波长和辐照度读数的稳定性。
便携式手持紫外光谱仪和过程流量计(传送带)
对于 BTS256-UV-1 手持式仪表,传感器入射光学元件放置在距离主仪表 250 毫米处。因此,它可以放置在辐射源的前面,而不会使操作员暴露在危险水平的紫外线辐射下。传感器本身非常扁平,总高度为 8 毫米。BTS256-UV-1 的校准在 225 nm - 525 nm 的波长范围内进行。
使用 BTS256-UV-2 流量计,传感器直接连接到流量计上。因此,它非常适用于样品通过传送带输送到 UV 光源下方的 UV 系统。BTS256-UV-2 的校准在 200 nm - 525 nm 的波长范围内进行。
快速内部数据记录器
除了光谱传感器外,BTS256-UV 光谱仪还包括一个宽带光电二极管,作为快速时间采样的第二个检测器。与仅使用阵列传感器所能达到的相比,这实现了更高的数据记录速率。
IEC 61215 系列,光伏组件的UV预处理测试
根据 IEC 61215 系列对光伏模块的鉴定要求使用规定剂量的 UVA 和 UVB 辐射进行预处理。与传统辐射计不同,BTS256-UV 光谱仪能够最准确地测量 UVA 和 UVB 辐照度水平,而与使用的 UV 源类型无关。每个设备都提供可追溯的校准证书,并被设计在所需的高温下运行。请参阅应用文章中有关 IEC 61215 和 IEC 61646 测量的更多详细信息
工厂校准和 ISO 17025 测试证书
Gigahertz-Optik的ISO 17025 认证测量实验室为其 BTS256-UV 提供高质量、可追溯的工厂校准。工厂校准在 Gigahertz-Optik 的校准实验室,使用与 NMI 认可的测试测量相同的质量管理程序进行处理。可选择提供具有 ISO/IEC/EN 17025 测试证书的 NMI 认证测试测量。
一般
简要描述
光谱辐射计,用于测量波长范围为 200 nm 至 525 nm 的强紫外线辐射的辐照度和剂量。
主要特点
12 毫米高。 不锈钢外壳可实现高温操作和强烈的紫外线辐射测量。 用于偏移补偿的机电孔径。 内部杂散光抑制。 可溯源校准。
测量范围
高达 50,000 mW/cm²,200 nm 至 525 nm。
典型应用
用于 UV 固化应用中过程控制的测量设备,既可作为过程流量计,也可作为移动手持测量设备,用于药物的 UV 加速老化,在具有 UV 光源的环境室内使用。
校准
工厂校准,可溯源至国际标准。
产品
传感器
具有宽带传感器和阵列光谱辐射计的双技术传感器。 用于自动调暗的集成光圈。
输入光学元件
不同的输入光学。 例如直径为 10 毫米的扩散器直接安装在设备上,或直径为 9 毫米的扩散器安装在耐热棒上。
光谱检测器
芯片
CMOS探测器
光谱范围
(200 - 525) nm
光带宽度
2.8 nm
数据分辨率
0.1 nm
集成时间
12 µs - 30 s
[更新前:(5.2 - 30000) ms]
快门
暗信号测量的自动光圈,积分时间与测量的积分时间相同。 此外,通过内置滤色器进行杂散光校正(OoR 校正)。
孔径延迟 = 100 毫秒。
峰值波长
+/- 0.3 nm
典型测量时间
BTS256-UV-2 和 BTS256-UV-3:
典型的 360 nm LED,50 mW/cm² - 18 ms
典型的 400 nm LED,50 mW/cm² - 10 ms
BTS256-UV-1:
典型的 360 nm LED,50 mW/cm² - 24 ms
典型的 400 nm LED,50 mW/cm² - 12 ms
整体检测器
ADC
12Bit
测量时间
(0.1 - 6000) ms
温度范围
二极管的测量值通过内部温度传感器进行校正。
滤波器
从 250 nm 到 450 nm(SMCF 校正)对矩形函数的响应度进行数学调整。 *
* 二极管的光谱响应度与矩形函数不对应(滤光片不可能)。 当测量光谱偏离积分检测器校准光谱的光源时(UV LED,峰值在 405 nm),测量结果使用 SMCF 进行校正。 这种校正的不确定性取决于测量光谱的质量(噪声)和校正因子的大小(光谱范围)。 为了正确计算 SMCF,必须测量要测量的辐射体的整个光谱。 如果发射器的辐射超出测量设备的光谱灵敏度范围,则会增加 SMCF 的不确定性。
典型辐照度
蓝色 LED,峰值 @405 nm:(2E-3 - 2E3) W/m²
图表
光谱响应性
杂项
微处理器
16Bit,25 ns 命令周期时间
电源
5 VDC,450 毫安通过 USB
接口
USB 2.0(迷你 USB 类型)
RS-485
重量
275 g
尺寸规格
基体 BTS256-UV-1 和 BTS256-UV-3:148 mm x 92 mm x 13 mm(长 x 宽 x 高)
基体 BTS256-UV-2:148 mm x 92 mm x 12 mm(长 x 宽 x 高)
记录器内存
100 个样本(光谱数据),10000 个样本(二极管)
温度范围
操作:+10°C bis +30°C(测头温度可短时间升高)
储存:-10°C 至 +50°C
电池运行时间
1400 mAh 锂离子电池
10 小时,显示背光开启和连续测量
背光关闭时待机 60 小时
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